Увод у електронски микроскоп за скенирање
Скенирајући електронски микроскоп (скенирајући електронски микроскоп, СЕМ) је прецизни инструмент великих размера који се користи за микро-топографску анализу високе резолуције. Има карактеристике велике дубинске оштрине, високе резолуције, интуитивног сликања, јаког тродимензионалног осећаја, широког опсега увећања, а узорак који се тестира може се ротирати и нагињати у тродимензионалном простору.